Semiconductores
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Sistemas de test paramétrico
- S680 - Sistema de Test Paramétrico DC/RF
- Software AdapTest para sistemas de test paramétricos de la serie S600 y S400
- Biblioteca de análisis del cobre para sistemas de test paramétricos de la serie S600
- Keithley Recipe Manager para sistemas de test paramétricos de la serie S400 y S600
- KTE - Software de Ambiente de Test de Keithley
- Paquete de hardware/software de Probe Card Manager para sistemas de test paramétrico de la serie S600
Test de Confiabilidad
- ACS - Sistemas de test de suite de caracterización automatizada (ACS)
- 4200-SCS - Sistema de caracterización de semiconductores
- 2612 - Instrumento SourceMeter de canal dual (200V)
Sistemas de caracterización de dispositivos
- ACS - Sistemas de test de suite de caracterización automatizada (ACS)
- 4200-SCS - Sistema de caracterización de semiconductores
- 4200-CVU - Opción C-V integrada para el modelo 4200-SCS
- 4200-CVU-UPGRADE - Tarjeta 4200-CVU y actualización para los sistemas 4200-SCS
- 4205-PG2 - Generador de pulsos de canal dual
- 4200-SCP2 - Tarjeta osciloscopio de canal dual
- 4200-SCP2HR - Tarjeta osciloscopio de canal dual de 200MS
- 4200-PIV-A - Opción de pulso I-V para el modelo 4200-SCS (incluye modelos 4200-PG2, 4200-SCP2, software y hardware de interconexión especializado)
- 4200-PIV-Q - I-V de pulsos con pulsado de canal dual y punto Q
- 4200-FLASH - Opción de test de memoria no volátil
Sistemas integrados basados en instrumentos
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Raien Argentina S.A. - Congreso 2171 - 6º Piso - C1428BVE - Ciudad Autónoma de Buenos Aires - Argentina - (54)11 5367.7316 | 5367.7317